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尺寸檢測
尺寸是零件在生產(chǎn)過程中是基本也是重要的控制要素之一，四川納卡成都檢測中心尺寸檢測實(shí)驗(yàn)室配備有大量高精度三坐標(biāo)測量機(jī)、影像測量機(jī)等尺寸檢測設(shè)備?？蓪蛻艄井a(chǎn)品之零件(模具、塑件、五金件)及治具執(zhí)行高精密及高速度之幾何尺寸和相互位置的量測,同時還可對空間型面進(jìn)行掃描,繪出輪廓圖,為設(shè)計(jì)、制造和品管等部門提供準(zhǔn)確之量測數(shù)據(jù) 。
表面粗糙度檢測
表面粗糙度是指加工表面具有的較小間距和微小峰谷的不平度 。其兩波峰或兩波谷之間的距離（波距）很?。ㄔ?mm以下），它屬于微觀幾何形狀誤差。
影響：表面粗糙度與機(jī)械零件的配合性質(zhì)、耐磨性、疲勞強(qiáng)度、接觸剛度、振動和噪聲等有密切關(guān)系，對機(jī)械產(chǎn)品的使用壽命和可靠性有重要影響。
作用：生產(chǎn)過程控制、預(yù)測工件的表現(xiàn)、零件的性能
表面粗糙度參數(shù)：Ra、Rz 、Rp 、Rv、Sa、Sz等

表面粗糙度參數(shù)含義
Ra評定輪廓算術(shù)平均偏差：在一個取樣長度內(nèi)縱坐標(biāo)值的的算術(shù)平均值。
Rz輪廓大高度：在一個取樣長度內(nèi)，大輪廓峰高與低輪廓谷深之間的距離。（在GB/T 3505-83版中Rz曾用于表示‘不平度的十點(diǎn)高度’。）
Rt輪廓總高度：在評定長度內(nèi)大輪廓峰高和低輪廓谷深之間的距離。（由于評定長度≥取樣長度，故Rt≥Rz）
Sa評定表面算術(shù)平均偏差:在取樣面積內(nèi)縱坐標(biāo)的的算術(shù)平均值。（3D光學(xué)干涉法測量出的面粗糙度，適用于Ra≤0.8微米的表面粗糙度）
Rq評定輪廓的均方根差：在一個取樣長度內(nèi)縱坐標(biāo)的均方根值。
測量方法：探針接觸式測量法、光學(xué)干涉非接觸式測量法
檢測設(shè)備：2D輪廓掃描儀、3D光學(xué)干涉儀

服務(wù)項(xiàng)目：
3D掃描：
3D任意外觀曲面掃描 
3D現(xiàn)場掃描
產(chǎn)品3D CAD Model建構(gòu)
易變形彈性曲面掃描量測
3D實(shí)體色階比對表面缺陷分析
2D邊緣輪廓色階比對邊緣缺陷分析 
逆向工程：
分析競爭對手產(chǎn)品設(shè)計(jì)
產(chǎn)品或模具自由曲面建構(gòu) 
快速樣品制作之CAD圖檔建構(gòu)
使用設(shè)備：
3D輪廓掃描機(jī)器人
3D輪廓掃描儀
手持式掃描儀等

微觀尺寸是一般是指用三坐標(biāo)測量機(jī)及影像測量機(jī)等高精度測量儀器也無法量測尺寸，通常指2μm以下 的尺寸。而隨著現(xiàn)代制造工藝和產(chǎn)品設(shè)計(jì)水平的不斷提高，多維曲面的頻繁使用，使得逆向測繪變得十分困難。
都檢測中心3D驗(yàn)證實(shí)驗(yàn)室配備有目前市場上的掃描設(shè)備ATOS，利用光學(xué)拍照定位技術(shù)和光柵測量原理及其特的自動拼接技術(shù)，拓展出對曲面的檢測和外觀缺陷分析的能力。同時延伸出逆向工程、機(jī)構(gòu)設(shè)計(jì)，以滿足市場需求。
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