四川納卡檢測(cè)服務(wù)有限公司授權(quán)成都國(guó)威冠準(zhǔn)檢測(cè)技術(shù)有限公司在網(wǎng)絡(luò)推廣平臺(tái)上為其進(jìn)行檢驗(yàn)檢測(cè)業(yè)務(wù)推廣。成都國(guó)威冠準(zhǔn)檢測(cè)技術(shù)有限公司所發(fā)信息中的檢驗(yàn)檢測(cè)由四川納卡檢測(cè)服務(wù)有限公司檢驗(yàn)檢測(cè)，報(bào)告由四川納卡檢測(cè)服務(wù)有限公司出具。
尺寸測(cè)量實(shí)驗(yàn)室擁有一批高素質(zhì)的測(cè)量工程師和一批Hexagon大型高精密接觸式三坐標(biāo)、德國(guó)Werth影像非接觸式三坐標(biāo)、Hexagon高精密關(guān)節(jié)臂、Atos高精密三維掃描系統(tǒng)（合作設(shè)備）、高精度粗糙度儀、高精度測(cè)長(zhǎng)儀等檢測(cè)設(shè)備。能夠?yàn)榭蛻籼峁┑臏y(cè)量解決方案（包括：完善的測(cè)試數(shù)據(jù)，合理的程序編寫(xiě)及優(yōu)化、的技術(shù)支持及培訓(xùn)）。
常規(guī)尺寸測(cè)量服務(wù)
（1）長(zhǎng)度、寬度、高度、距離、直徑、角度、坐標(biāo)值檢測(cè)
（2）GDT中直線度、平面度、圓度、圓柱度、形狀的單點(diǎn)觸測(cè)
復(fù)雜高精密尺寸測(cè)量服務(wù)
（1）GDT中直線度、平面度、圓度、圓柱度、形狀掃描檢測(cè)
（2）GDT中垂直度、傾斜度、平行度、位置度、同軸（心）度、對(duì)稱度、跳動(dòng)檢測(cè)
尺寸測(cè)量服務(wù)（粗糙度）
（1）粗糙度檢測(cè)可提供波紋圖參數(shù), 原始輪廓參數(shù).JIS 標(biāo)準(zhǔn)參數(shù), DIN 標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)
尺寸測(cè)量服務(wù)（3D數(shù)模比對(duì)）
曲面、曲線的線輪廓和面輪廓度檢測(cè)
3D掃描&逆向工程
根據(jù)實(shí)體掃描，可測(cè)常規(guī)尺寸、形位公差及3D色譜分析，也可轉(zhuǎn)為3D實(shí)體模型
微觀尺寸是一般是指用三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)及影像測(cè)量機(jī)等高精度測(cè)量?jī)x器也無(wú)法量測(cè)尺寸，通常指2μm以下 的尺寸。而隨著現(xiàn)代制造工藝和產(chǎn)品設(shè)計(jì)水平的不斷提高，多維曲面的頻繁使用，使得逆向測(cè)繪變得十分困難。

服務(wù)項(xiàng)目：
3D掃描：
3D任意外觀曲面掃描 
3D現(xiàn)場(chǎng)掃描
產(chǎn)品3D CAD Model建構(gòu)
易變形彈性曲面掃描量測(cè)
3D實(shí)體色階比對(duì)表面缺陷分析
2D邊緣輪廓色階比對(duì)邊緣缺陷分析 
逆向工程：
分析競(jìng)爭(zhēng)對(duì)手產(chǎn)品設(shè)計(jì)
產(chǎn)品或模具自由曲面建構(gòu) 
快速樣品制作之CAD圖檔建構(gòu)
使用設(shè)備：
3D輪廓掃描機(jī)器人
3D輪廓掃描儀
手持式掃描儀等

主要服務(wù)項(xiàng)目：
表面粗糙度測(cè)量（Rz、Ra、Rq、Rv、Sa、Sz等參數(shù)）；
波紋度檢測(cè)；
機(jī)械加工、表面處理等制程；
輪廓尺寸測(cè)量、輪廓尺寸驗(yàn)證；
表面失效/缺陷尺寸分析（劃痕、白點(diǎn)、表面霧化等）；
微觀尺寸測(cè)量（長(zhǎng)寬高、半徑、面積、體積等）；
透明/半透明膜厚測(cè)試；
3D微觀表面掃描、3D微觀表面縫合掃描；
非常規(guī)尺寸測(cè)量（微小部件圓角半徑、倒角塌邊等）；
粉末顆粒粒徑測(cè)量；
產(chǎn)品加工刀紋尺寸測(cè)量等。

表面粗糙度參數(shù)含義
Ra評(píng)定輪廓算術(shù)平均偏差：在一個(gè)取樣長(zhǎng)度內(nèi)縱坐標(biāo)值的的算術(shù)平均值。
Rz輪廓大高度：在一個(gè)取樣長(zhǎng)度內(nèi)，大輪廓峰高與低輪廓谷深之間的距離。（在GB/T 3505-83版中Rz曾用于表示‘不平度的十點(diǎn)高度’。）
Rt輪廓總高度：在評(píng)定長(zhǎng)度內(nèi)大輪廓峰高和低輪廓谷深之間的距離。（由于評(píng)定長(zhǎng)度≥取樣長(zhǎng)度，故Rt≥Rz）
Sa評(píng)定表面算術(shù)平均偏差:在取樣面積內(nèi)縱坐標(biāo)的的算術(shù)平均值。（3D光學(xué)干涉法測(cè)量出的面粗糙度，適用于Ra≤0.8微米的表面粗糙度）
Rq評(píng)定輪廓的均方根差：在一個(gè)取樣長(zhǎng)度內(nèi)縱坐標(biāo)的均方根值。
測(cè)量方法：探針接觸式測(cè)量法、光學(xué)干涉非接觸式測(cè)量法
檢測(cè)設(shè)備：2D輪廓掃描儀、3D光學(xué)干涉儀
都檢測(cè)中心3D驗(yàn)證實(shí)驗(yàn)室配備有目前市場(chǎng)上的掃描設(shè)備ATOS，利用光學(xué)拍照定位技術(shù)和光柵測(cè)量原理及其特的自動(dòng)拼接技術(shù)，拓展出對(duì)曲面的檢測(cè)和外觀缺陷分析的能力。同時(shí)延伸出逆向工程、機(jī)構(gòu)設(shè)計(jì)，以滿足市場(chǎng)需求。
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