四川納卡檢測(cè)服務(wù)有限公司授權(quán)成都國(guó)威冠準(zhǔn)檢測(cè)技術(shù)有限公司在網(wǎng)絡(luò)推廣平臺(tái)上為其進(jìn)行檢驗(yàn)檢測(cè)業(yè)務(wù)推廣。成都國(guó)威冠準(zhǔn)檢測(cè)技術(shù)有限公司所發(fā)信息中的檢驗(yàn)檢測(cè)由四川納卡檢測(cè)服務(wù)有限公司檢驗(yàn)檢測(cè)，報(bào)告由四川納卡檢測(cè)服務(wù)有限公司出具。
尺寸測(cè)量實(shí)驗(yàn)室擁有一批高素質(zhì)的測(cè)量工程師和一批Hexagon大型高精密接觸式三坐標(biāo)、德國(guó)Werth影像非接觸式三坐標(biāo)、Hexagon高精密關(guān)節(jié)臂、Atos高精密三維掃描系統(tǒng)（合作設(shè)備）、高精度粗糙度儀、高精度測(cè)長(zhǎng)儀等檢測(cè)設(shè)備。能夠?yàn)榭蛻籼峁┑臏y(cè)量解決方案（包括：完善的測(cè)試數(shù)據(jù)，合理的程序編寫及優(yōu)化、的技術(shù)支持及培訓(xùn)）。
常規(guī)尺寸測(cè)量服務(wù)
（1）長(zhǎng)度、寬度、高度、距離、直徑、角度、坐標(biāo)值檢測(cè)
（2）GDT中直線度、平面度、圓度、圓柱度、形狀的單點(diǎn)觸測(cè)
復(fù)雜高精密尺寸測(cè)量服務(wù)
（1）GDT中直線度、平面度、圓度、圓柱度、形狀掃描檢測(cè)
（2）GDT中垂直度、傾斜度、平行度、位置度、同軸（心）度、對(duì)稱度、跳動(dòng)檢測(cè)
尺寸測(cè)量服務(wù)（粗糙度）
（1）粗糙度檢測(cè)可提供波紋圖參數(shù), 原始輪廓參數(shù).JIS 標(biāo)準(zhǔn)參數(shù), DIN 標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)
尺寸測(cè)量服務(wù)（3D數(shù)模比對(duì)）
曲面、曲線的線輪廓和面輪廓度檢測(cè)
3D掃描&逆向工程
根據(jù)實(shí)體掃描，可測(cè)常規(guī)尺寸、形位公差及3D色譜分析，也可轉(zhuǎn)為3D實(shí)體模型
服務(wù)項(xiàng)目：
FAI（產(chǎn)品件檢驗(yàn)） 
TVR（模具驗(yàn)證） 
CpK （制程能力驗(yàn)證及分析） 
GR&R (量測(cè)能力驗(yàn)證及分析）
普通尺寸檢測(cè)
形位公差檢測(cè)

表面粗糙度檢測(cè)
表面粗糙度是指加工表面具有的較小間距和微小峰谷的不平度 。其兩波峰或兩波谷之間的距離（波距）很?。ㄔ?mm以下），它屬于微觀幾何形狀誤差。
影響：表面粗糙度與機(jī)械零件的配合性質(zhì)、耐磨性、疲勞強(qiáng)度、接觸剛度、振動(dòng)和噪聲等有密切關(guān)系，對(duì)機(jī)械產(chǎn)品的使用壽命和可靠性有重要影響。
作用：生產(chǎn)過程控制、預(yù)測(cè)工件的表現(xiàn)、零件的性能
表面粗糙度參數(shù)：Ra、Rz 、Rp 、Rv、Sa、Sz等

微觀尺寸檢測(cè)
采用布魯克的3D白光干涉儀、東京精密的2D探針輪廓儀、掃描電子顯微鏡等國(guó)際超精密設(shè)備，能為企業(yè)提供微米、納米級(jí)別的微觀尺寸量測(cè)、3D形貌掃描分析、非常規(guī)尺寸（如微小部件的R角半徑、樣品表面異常分析等）以及表面粗糙檢測(cè)等服務(wù)，幫助企業(yè)解決一系列產(chǎn)品開發(fā)、生產(chǎn)過程中出現(xiàn)的各種異常狀況，協(xié)助企業(yè)管控生產(chǎn)質(zhì)量。

表面粗糙度參數(shù)含義
Ra評(píng)定輪廓算術(shù)平均偏差：在一個(gè)取樣長(zhǎng)度內(nèi)縱坐標(biāo)值的的算術(shù)平均值。
Rz輪廓大高度：在一個(gè)取樣長(zhǎng)度內(nèi)，大輪廓峰高與低輪廓谷深之間的距離。（在GB/T 3505-83版中Rz曾用于表示‘不平度的十點(diǎn)高度’。）
Rt輪廓總高度：在評(píng)定長(zhǎng)度內(nèi)大輪廓峰高和低輪廓谷深之間的距離。（由于評(píng)定長(zhǎng)度≥取樣長(zhǎng)度，故Rt≥Rz）
Sa評(píng)定表面算術(shù)平均偏差:在取樣面積內(nèi)縱坐標(biāo)的的算術(shù)平均值。（3D光學(xué)干涉法測(cè)量出的面粗糙度，適用于Ra≤0.8微米的表面粗糙度）
Rq評(píng)定輪廓的均方根差：在一個(gè)取樣長(zhǎng)度內(nèi)縱坐標(biāo)的均方根值。
測(cè)量方法：探針接觸式測(cè)量法、光學(xué)干涉非接觸式測(cè)量法
檢測(cè)設(shè)備：2D輪廓掃描儀、3D光學(xué)干涉儀
我們的優(yōu)勢(shì)：
的設(shè)備：清一色國(guó)外進(jìn)口的高精度尺寸檢測(cè)設(shè)備；
豐富的經(jīng)驗(yàn)和大地測(cè)試容量
快速的測(cè)試周期：一般3工作日出具報(bào)告；
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